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※掲載文は一部を抜粋したものです、詳細はENN誌をご覧下さい。

  SPAR 2010J 「第6回 3次元計測フォーラム」 開催
  - 4月15・16日 川崎産業振興会館で、本誌後援 -


 3次元計測の専門展示および会議を行う、APAR 2010J 「第6回 3次元計測フォーラム」 (本誌後援) が4月15・16日の両日、川崎産業振興会館で開催される。 3次元計測は、レーザースキャナーを活用して、物体をスキャンして、その3次元計測CADデータを作成するもの。 プラント、文化財、インフラ、土地観測などのニーズが高まってきており、最近では注目度も高くなっている。




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ENN編集部